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本文是對ISO16750-4:2023版翻譯和解讀的第9期，針對防塵試驗(yàn)試驗(yàn)進(jìn)行介紹和解讀。防塵試驗(yàn)在ISO16750-4:2023版中描述僅有如上幾頁內(nèi)容，但是其引用和參考的標(biāo)準(zhǔn)非常多，首先其最重要

AEC-Q100文件，是芯片開展車規(guī)等級驗(yàn)證的重要標(biāo)準(zhǔn)和指導(dǎo)文件，本文將重點(diǎn)對G組的第5項(xiàng)DROP - Package Drop封裝跌落測試項(xiàng)目進(jìn)行介紹。AEC Q100 表格2中G組內(nèi)容DROP -

AEC-Q100文件，是芯片開展車規(guī)等級驗(yàn)證的重要標(biāo)準(zhǔn)和指導(dǎo)文件，本文將重點(diǎn)對G組的第4項(xiàng)GFL - Gross/Fine Leak 泄露測試項(xiàng)目進(jìn)行介紹。AEC Q100 表格2中G組內(nèi)容GFL -

AEC-Q100文件，是芯片開展車規(guī)等級驗(yàn)證的重要標(biāo)準(zhǔn)和指導(dǎo)文件，本文將重點(diǎn)對G組的第3項(xiàng)CA - Constant Acceleration恒加速度項(xiàng)目進(jìn)行介紹。AEC Q100 表格2中G組內(nèi)容C

AEC-Q100最新的版本是Rev_J，剛剛發(fā)布于2023年8月，因?yàn)橹氨救朔g了Rev H版本，借此機(jī)會也開始進(jìn)行J版本的更新翻譯。AEC Q100 Rev J版本的封面全文翻譯工作正在進(jìn)行，完成

AEC-Q100文件，是芯片開展車規(guī)等級驗(yàn)證的重要標(biāo)準(zhǔn)和指導(dǎo)文件，本文將重點(diǎn)對G組的第2項(xiàng)VFV - Variable Frequency Vibration變頻震動項(xiàng)目進(jìn)行介紹。AEC Q100 表

AEC-Q100文件，是芯片開展車規(guī)等級驗(yàn)證的重要標(biāo)準(zhǔn)和指導(dǎo)文件，本文將重點(diǎn)對G組的第1項(xiàng)MS - Mechanical Shock機(jī)械震動項(xiàng)目進(jìn)行介紹。AEC Q100 表格2中G組內(nèi)容MS - M

在完成了AEC Q100 F組的兩項(xiàng)內(nèi)容介紹后，關(guān)于AEC文件中測試方法和統(tǒng)計(jì)指導(dǎo)的幾個內(nèi)容都已經(jīng)完成，這幾個內(nèi)容對于剛接觸AEC認(rèn)證和車規(guī)體系的朋友們理解起來可能有些吃力，所以在此進(jìn)行一下總結(jié)和對比

本文是對ISO16750-4:2023版翻譯和解讀的第8期，針對混合氣體流動腐蝕試驗(yàn)試驗(yàn)進(jìn)行介紹和解讀。ISO16750-4中關(guān)于混合氣體流動腐蝕試驗(yàn)的描述非常簡單，因此更多的試驗(yàn)細(xì)節(jié)需要參考引用標(biāo)準(zhǔn)

AEC-Q100文件，是芯片開展車規(guī)等級驗(yàn)證的重要標(biāo)準(zhǔn)和指導(dǎo)文件。F組驗(yàn)證是DEFECT SCREENING TESTS缺陷篩查測試本文將重點(diǎn)對F組的第2項(xiàng)SBA --- Statistical Bi