全球領(lǐng)先的自動測試設(shè)備和機器人供應(yīng)商泰瑞達（NASDAQ:TER）宣布推出新一代內(nèi)存測試平臺Magnum 7H，旨在滿足高性能生成式AI服務(wù)器中GPU和加速器所集成的高帶寬內(nèi)存（HBM）芯片測試的嚴苛要求。Magnum 7H專為大規(guī)模HBM堆疊裸片測試而設(shè)計，具備高同測數(shù)、高速和高精度三大特性。行業(yè)領(lǐng)先的HBM制造商已開始使用泰瑞達Magnum 7H平臺進行HBM芯片的量產(chǎn)測試并出貨，產(chǎn)能得到大幅提升。

泰瑞達內(nèi)存測試事業(yè)部總裁Young Kim表示：“我們隆重推出Magnum 7H，這是一款革新性的內(nèi)存測試平臺，它重新定義了HBM芯片的測試標準。這項創(chuàng)新標志著我們在內(nèi)存測試技術(shù)領(lǐng)域取得了重大突破，它不僅滿足當前的芯片測試需求，更為未來的芯片做好了準備。”

Magnum 7H是一款先進的內(nèi)存測試平臺，支持多代HBM芯片，包括HBM2E、HBM3、HBM3E、HBM4和HBM4E。該平臺實現(xiàn)了從基礎(chǔ)裸片晶圓測試、內(nèi)存核心測試到老化測試的全面覆蓋，確保HBM芯片品質(zhì)卓越且穩(wěn)定可靠。此外，Magnum 7H既可通過與傳統(tǒng)探針臺和探針卡對接，在Known-Good-Stack-Die（KGSD）或Chip-on-Wafer（CoW）級別對未切割的HBM芯片進行測試，也可配合新型裸片探針臺/分選器，對切割后的HBM芯片進行測試，以改善芯片質(zhì)量。

泰瑞達Magnum 7H具有以下優(yōu)勢：

-提升芯片質(zhì)量：出色的DPS響應(yīng)時間有助于提高芯片良率。

-全面的內(nèi)存和邏輯測試：Magnum 7H非常適合測試同時包含邏輯功能裸片（logic base die）和DRAM裸片的HBM堆疊。其中，靈活的算法測試向量生成器（APG）支持高速內(nèi)存測試，同時，也可支持邏輯向量內(nèi)存（LVM）選項用于邏輯測試。Fail List Streaming（FLS™）功能確保在高速內(nèi)存和邏輯測試中實時捕獲錯誤。

-高性能：支持高達4.5 Gbps的數(shù)據(jù)速率，滿足當前HBM3/3E和下一代HBM4/4E芯片對速率的測試需求。

-高同測數(shù)：Magnum 7H對于降低HBM的整體測試成本至關(guān)重要。它可配置多達9,216個數(shù)字引腳和2,560個電源引腳，能夠顯著提升測試效率，減少Touch Down次數(shù)，在量產(chǎn)測試下的產(chǎn)能可提升1.6倍。

AI和云基礎(chǔ)設(shè)施應(yīng)用對更高性能和效率的不斷追求，正推動HBM需求快速增長。泰瑞達的Magnum 7H作為新一代內(nèi)存測試平臺，專為HBM芯片的當前和未來測試需求而設(shè)計，具備高同測數(shù)、高速和高精度特性，能夠滿足整個制造流程中多個階段的測試需求。

有關(guān)Magnum 7H及其功能的更多信息，敬請訪問：https://www.teradyne.com/products/magnum-7h/。

關(guān)于泰瑞達：

泰瑞達（NASDAQ:TER）是一家致力于設(shè)計、開發(fā)、制造自動測試設(shè)備和先進機器人系統(tǒng)的公司。泰瑞達提供針對半導(dǎo)體和電子產(chǎn)品的測試解決方案，助力客戶穩(wěn)定產(chǎn)出高質(zhì)量產(chǎn)品。泰瑞達的先進機器人業(yè)務(wù)包括協(xié)作機器人和移動機器人，可為不同規(guī)模的公司提供高效的制造和倉儲支持。更多信息，請訪問teradyne.com官網(wǎng)。Teradyne®是Teradyne, Inc.在美國和其他國家/地區(qū)的注冊的商標。