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當(dāng)高壓側(cè)電壓緩慢地往上升時可以清楚地看見毛刺越來越嚴(yán)重,電壓很低時管子發(fā)熱嚴(yán)重,芯片很容易燒掉。這些問題都是由于2110自身的一些不足產(chǎn)生的,IR2110不能產(chǎn)生負(fù)偏壓,如果用于驅(qū)動橋式電路,在半橋電感負(fù)載電路下運(yùn)行,處于關(guān)斷狀態(tài)下的IGBT,由于其反并聯(lián)二極管的恢復(fù)過程,將承受C-E電壓的急劇上升。此靜態(tài)的dv/dt通常比IGBT關(guān)斷時的上升率高。由于密勒效應(yīng),此dv/dt在集電極,柵極問電容內(nèi)產(chǎn)生電流,流向柵極驅(qū)動電路,如圖3所示。雖然在關(guān)斷狀態(tài)時柵極電壓Vg為零,由于柵極電路的阻抗(柵極限流電阻Rg,引線電感Lg),該電流令VGE增加,趨向于VGE(th)。最嚴(yán)重的情況是該電壓達(dá)到閾值電壓,使IGBT導(dǎo)通,導(dǎo)致橋臂短路。IR2110驅(qū)動輸出阻抗不夠小,沿柵極的灌人電流會在驅(qū)動電壓上加上比較嚴(yán)重的毛刺干擾。http://www.21ic.com/app/analog/200904/41548.htm