耐壓測(cè)試結(jié)束時(shí),在只有信號(hào)端子接觸的情況下,Y電容上的電壓放電,如果放電時(shí)間太快,由于大的du/dt,會(huì)對(duì)UUT內(nèi)部電路造成損壞,一般下降時(shí)間設(shè)置多少合適?
耐壓測(cè)試時(shí),下降時(shí)間設(shè)置多少合適
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耐壓測(cè)試結(jié)束時(shí),在只有信號(hào)端子接觸的情況下,Y電容上的電壓放電,如果放電時(shí)間太快,由于大的du/dt,會(huì)對(duì)UUT內(nèi)部電路造成損壞,一般下降時(shí)間設(shè)置多少合適?