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耐壓測試時(shí)，下降時(shí)間設(shè)置多少合適

耐壓測試結(jié)束時(shí)，在只有信號(hào)端子接觸的情況下，Y電容上的電壓放電，如果放電時(shí)間太快，由于大的du/dt，會(huì)對UUT內(nèi)部電路造成損壞，一般下降時(shí)間設(shè)置多少合適？

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pzp118
LV.1
2
2012-05-08 08:36

測試耐壓時(shí)，電壓下降時(shí)間不等于放電時(shí)間，如當(dāng)使用19032時(shí)，快速放電設(shè)定，（Discharg-V）DC放電之上限值設(shè)定，Discharg-V設(shè)定值以下電壓，將以0.2S快速放電。這也是測試產(chǎn)品對儀器放電時(shí)間。

 

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xh_123
LV.3
3
2014-12-09 16:34
這個(gè)問題問的好，老的設(shè)備上升沿太快，測試耐壓經(jīng)常會(huì)打火。我也想問這個(gè)問題。
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l4981
LV.4
4
2014-12-09 19:21
不會(huì)造成損壞吧!
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jiedi
LV.3
5
2015-01-07 20:41
耐壓測試的時(shí)間一般是設(shè)置60S的標(biāo)準(zhǔn)時(shí)間吧！
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