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分析模塊炸的原因

 

各位大俠好!我一個(gè)模塊炸成這個(gè)樣子,請(qǐng)大家?guī)臀曳治鲆幌率鞘裁丛蛞鸬??是否是?qū)動(dòng)的激勵(lì)不夠引起的?謝謝

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my.mai
LV.9
2
2011-06-21 08:35
就這么看個(gè)圖片就能分析IGBT損壞的原因,估計(jì)這牛人會(huì)被英飛凌年薪百萬美金挖去做總工程師了。
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2011-06-21 08:48
@my.mai
就這么看個(gè)圖片就能分析IGBT損壞的原因,估計(jì)這牛人會(huì)被英飛凌年薪百萬美金挖去做總工程師了。
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2011-06-21 09:56
@my.mai
就這么看個(gè)圖片就能分析IGBT損壞的原因,估計(jì)這牛人會(huì)被英飛凌年薪百萬美金挖去做總工程師了。

我是指從這個(gè)圖上能否大略的知道是過壓還是過流。我的判斷應(yīng)該是過流,在容性狀態(tài)下炸的模塊。過壓的話一般不會(huì)這樣炸的。

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igbtsy
LV.9
5
2011-06-21 10:48
@我是無為
我是指從這個(gè)圖上能否大略的知道是過壓還是過流。我的判斷應(yīng)該是過流,在容性狀態(tài)下炸的模塊。過壓的話一般不會(huì)這樣炸的。

從來沒發(fā)生這種情況,沒有現(xiàn)成的經(jīng)驗(yàn)給你。

炸模塊都是過熱造成的,有緩慢的過熱,在過熱保護(hù)失效的情況下。還有的是瞬間過熱,一般是欠激勵(lì)或者是短路保護(hù)速度慢,管芯迅速過熱而熱擊穿。很少有的情況是CE電壓有尖峰干擾竄入,CE擊穿,如果有CE限壓保護(hù)那只是丟卒保車,損壞的是保護(hù)元件,模塊就不壞了。

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igbtsy
LV.9
6
2011-06-21 10:52
@我是無為
我是指從這個(gè)圖上能否大略的知道是過壓還是過流。我的判斷應(yīng)該是過流,在容性狀態(tài)下炸的模塊。過壓的話一般不會(huì)這樣炸的。
既然知道是容性損壞,為什么不設(shè)置硬開關(guān)保護(hù)。設(shè)計(jì)之初就要考慮到各種可能的異常情況,做全了保護(hù),加上原先電路及功能的可靠性設(shè)計(jì),還會(huì)發(fā)生這種情況嗎?
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stevenpe
LV.4
7
2011-06-21 11:58
@我是無為
我是指從這個(gè)圖上能否大略的知道是過壓還是過流。我的判斷應(yīng)該是過流,在容性狀態(tài)下炸的模塊。過壓的話一般不會(huì)這樣炸的。

過壓和過流在這個(gè)圖片上看不出來的,如果你把模塊的外殼打開的話,去掉絕緣硅脂,或許可以看到(僅適合于不是炸毀特別嚴(yán)重的情況):

過壓擊穿現(xiàn)象:一般IGBT芯片不是整個(gè)壞掉,你可以看到IGBT芯片里面有小黑點(diǎn),這樣的話一般是由于過壓擊穿引起的。

過流擊穿現(xiàn)象:一般IGBT芯片整個(gè)壞了,基本上是芯片從中間炸開了,IGBT芯片有點(diǎn)面目全非的味道,這樣的話,一般是由于過流擊穿引起的。

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2011-06-21 13:56
@igbtsy
既然知道是容性損壞,為什么不設(shè)置硬開關(guān)保護(hù)。設(shè)計(jì)之初就要考慮到各種可能的異常情況,做全了保護(hù),加上原先電路及功能的可靠性設(shè)計(jì),還會(huì)發(fā)生這種情況嗎?
誰告訴你的容性區(qū)就是硬開關(guān)啊?
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ytwsdz
LV.7
9
2011-06-21 15:33

你這是大衛(wèi)模塊 ,一是負(fù)載有短路漏電情況下大電流連續(xù)工作后爆了, 二是工作的諧振點(diǎn)不對(duì),三是你不懂哈,說也沒用

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2011-06-21 21:18
@ytwsdz
你這是大衛(wèi)模塊,一是負(fù)載有短路漏電情況下大電流連續(xù)工作后爆了,二是工作的諧振點(diǎn)不對(duì),三是你不懂哈,說也沒用

就是因?yàn)椴欢?,所以才來?qǐng)教!

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2011-06-21 21:19
@firefox886
誰告訴你的容性區(qū)就是硬開關(guān)?。?/span>
容性區(qū)還能做到軟開關(guān)?愿請(qǐng)教。
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firefox886
LV.9
12
2011-06-21 21:38
@我是無為
容性區(qū)還能做到軟開關(guān)?愿請(qǐng)教。

感性區(qū)是ZVS,容性區(qū)是ZCS,好好看資料吧!

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fsrhc
LV.4
13
2011-06-22 12:29
@我是無為
就是因?yàn)椴欢圆艁碚?qǐng)教!
很對(duì) !不懂即問。
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2011-06-23 21:40
基本上是電流失控引起的,只有大電流才會(huì)炸成這樣。失控的原因有過壓、短路和超溫。新手的話超溫的面很大。如果用英飛凌的話炸的不會(huì)這么嚴(yán)重。
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stevenpe
LV.4
15
2011-06-24 08:01
@秋天的風(fēng)
基本上是電流失控引起的,只有大電流才會(huì)炸成這樣。失控的原因有過壓、短路和超溫。新手的話超溫的面很大。如果用英飛凌的話炸的不會(huì)這么嚴(yán)重。

我認(rèn)同陳工的觀點(diǎn),過壓擊穿一般都不會(huì)這么嚴(yán)重,很多時(shí)候只是IGBT芯片會(huì)有一個(gè)小斑點(diǎn),過流的話,就會(huì)出現(xiàn)炸管,會(huì)把外殼炸開,甚至底板炸裂。

如果用英飛凌的,也不是說炸的不會(huì)這么嚴(yán)重,只不過相比之下,英飛凌的過流過壓能力強(qiáng)一些,如果過流達(dá)到一定閥值的話,也是會(huì)炸的面目全非的。

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sun8899
LV.2
16
2011-06-27 20:16
各位首長(zhǎng)們:大家一起努力來共同研究一塊高性能的國(guó)產(chǎn)IGBT模塊吧!以后讓炸模塊的現(xiàn)象或者說是模塊損壞的現(xiàn)象永遠(yuǎn)在國(guó)內(nèi)消失。這個(gè)想法不錯(cuò)吧?各位~~~
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stevenpe
LV.4
17
2011-06-28 07:26
@sun8899
各位首長(zhǎng)們:大家一起努力來共同研究一塊高性能的國(guó)產(chǎn)IGBT模塊吧!以后讓炸模塊的現(xiàn)象或者說是模塊損壞的現(xiàn)象永遠(yuǎn)在國(guó)內(nèi)消失。這個(gè)想法不錯(cuò)吧?各位~~~[圖片]

想法非常好,個(gè)人很贊同。

無論是國(guó)產(chǎn)的還是進(jìn)口的IGBT模塊,其實(shí)原材料差不多,包括IGBT芯片,絕緣硅脂,陶瓷基板,銅基板。但是對(duì)于IGBT模塊來說,關(guān)鍵有一個(gè)封裝工藝在里面,這玩意就像懷孕,沒到時(shí)間,看不出肚子大,沒到時(shí)間,那肚里的孩子更加不可能生下來。

所以隨著時(shí)間的推移,國(guó)產(chǎn)的IGBT模塊質(zhì)量提升,那幾乎沒有任何懸念的。

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2011-06-28 08:18
 大家炸管都?xì)w為電路原因!難道模塊本身就100%無質(zhì)量問題?
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2011-06-28 08:19
@firefox886
感性區(qū)是ZVS,容性區(qū)是ZCS,好好看資料吧!
哪份資料說的啊?發(fā)來看看
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firefox886
LV.9
20
2011-06-28 10:06
@冉智電磁ayong
哪份資料說的???發(fā)來看看

相關(guān)資料多的是,自已去找吧!

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my.mai
LV.9
21
2011-06-28 16:31
@冉智電磁ayong
 大家炸管都?xì)w為電路原因!難道模塊本身就100%無質(zhì)量問題?
因?yàn)閲?guó)內(nèi)缺乏真正能分析IGBT模塊損毀的原因的牛人,所以人家做模塊的也牛,壟斷的生意。
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stevenpe
LV.4
22
2011-06-29 07:55
@my.mai
因?yàn)閲?guó)內(nèi)缺乏真正能分析IGBT模塊損毀的原因的牛人,所以人家做模塊的也牛,壟斷的生意。

其實(shí),使用的器件,包括電阻、電容、IC,IGBT模塊,甚至PCB,哪個(gè)都會(huì)有問題,包括器件本身的質(zhì)量問題和使用不妥當(dāng)造成的失效,亦或者是因?yàn)槠骷匣a(chǎn)生的質(zhì)量問題??傊霈F(xiàn)故障,肯定是有原因的,往往有時(shí)候表象很復(fù)雜,很難找出真正的原因。

話說回來,誰都想把自己的產(chǎn)品完美無缺,做機(jī)器的,想讓自己的機(jī)器在幾年時(shí)間之內(nèi)不出問題;做器件的,想讓自己的器件用上去就不會(huì)壞;問題是,理想的狀態(tài)和現(xiàn)實(shí)的狀態(tài)那不相匹配啊,想法是好的,就是實(shí)現(xiàn)不了,呵呵。

出了問題,那就找問題,多分析,多總結(jié),技術(shù)啊,器件工藝啊,那也就在不知不覺中前進(jìn)了。

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irex
LV.5
23
2011-06-29 08:14
@stevenpe
其實(shí),使用的器件,包括電阻、電容、IC,IGBT模塊,甚至PCB,哪個(gè)都會(huì)有問題,包括器件本身的質(zhì)量問題和使用不妥當(dāng)造成的失效,亦或者是因?yàn)槠骷匣a(chǎn)生的質(zhì)量問題。總之,出現(xiàn)故障,肯定是有原因的,往往有時(shí)候表象很復(fù)雜,很難找出真正的原因。話說回來,誰都想把自己的產(chǎn)品完美無缺,做機(jī)器的,想讓自己的機(jī)器在幾年時(shí)間之內(nèi)不出問題;做器件的,想讓自己的器件用上去就不會(huì)壞;問題是,理想的狀態(tài)和現(xiàn)實(shí)的狀態(tài)那不相匹配啊,想法是好的,就是實(shí)現(xiàn)不了,呵呵。出了問題,那就找問題,多分析,多總結(jié),技術(shù)啊,器件工藝啊,那也就在不知不覺中前進(jìn)了。

這問題不會(huì)在元件上,是在你設(shè)計(jì)與對(duì)應(yīng)負(fù)載問題

本人最近在致力研究 感應(yīng)加熱 元件合理應(yīng)用

最後導(dǎo)出一各 負(fù)載參數(shù)表(僅適用無變壓器輸出架構(gòu))

暫時(shí)給他一個(gè)參數(shù) 叫 [磁載率]

他的定義就是  入電電流與諧振電流比

換句話就是說 多大諧震電流能帶多少入電電流,而入電電流就是能作用到負(fù)載的功(機(jī)器損號(hào)先忽略)

比如 20號(hào)鋼係數(shù)在17%-22%, 45號(hào),鋼係數(shù)在12%-15%,砲筒(3鉻鋼)在7%-11%

這係數(shù)也會(huì)與線圈與負(fù)載距離有關(guān),上係數(shù)以15mm-25mm測(cè)定

因此 比如60N100 IGBT 在20號(hào)鋼時(shí)可以 做到 16A(380V) 10KW 安全使用 不會(huì)超過IGBT ICM

在適當(dāng)?shù)倪x擇耗電 還可以降低周邊元件於量, 降低 所有元件 發(fā)熱

因此,看你IGBT狀況 可以肯定是你 負(fù)載 沒注意好,IGBT 超過 ICM 而炸毀

也相信你 周邊元件 比如電容 下場(chǎng)應(yīng)該不比 IGBT 好

科技進(jìn)步 在不同角度鑽研與分析

祝你好運(yùn)

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my.mai
LV.9
24
2011-06-29 09:24
@irex
這問題不會(huì)在元件上,是在你設(shè)計(jì)與對(duì)應(yīng)負(fù)載問題本人最近在致力研究感應(yīng)加熱元件合理應(yīng)用最後導(dǎo)出一各負(fù)載參數(shù)表(僅適用無變壓器輸出架構(gòu))暫時(shí)給他一個(gè)參數(shù)叫[磁載率]他的定義就是 入電電流與諧振電流比換句話就是說多大諧震電流能帶多少入電電流,而入電電流就是能作用到負(fù)載的功(機(jī)器損號(hào)先忽略)比如20號(hào)鋼係數(shù)在17%-22%,45號(hào),鋼係數(shù)在12%-15%,砲筒(3鉻鋼)在7%-11%這係數(shù)也會(huì)與線圈與負(fù)載距離有關(guān),上係數(shù)以15mm-25mm測(cè)定因此比如60N100IGBT在20號(hào)鋼時(shí)可以做到16A(380V)10KW安全使用不會(huì)超過IGBTICM在適當(dāng)?shù)倪x擇耗電還可以降低周邊元件於量,降低所有元件發(fā)熱因此,看你IGBT狀況可以肯定是你負(fù)載沒注意好,IGBT超過ICM而炸毀也相信你周邊元件比如電容下場(chǎng)應(yīng)該不比IGBT好科技進(jìn)步在不同角度鑽研與分析祝你好運(yùn)
頂一下劉工。
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my.mai
LV.9
25
2011-06-29 09:29
@stevenpe
其實(shí),使用的器件,包括電阻、電容、IC,IGBT模塊,甚至PCB,哪個(gè)都會(huì)有問題,包括器件本身的質(zhì)量問題和使用不妥當(dāng)造成的失效,亦或者是因?yàn)槠骷匣a(chǎn)生的質(zhì)量問題??傊?,出現(xiàn)故障,肯定是有原因的,往往有時(shí)候表象很復(fù)雜,很難找出真正的原因。話說回來,誰都想把自己的產(chǎn)品完美無缺,做機(jī)器的,想讓自己的機(jī)器在幾年時(shí)間之內(nèi)不出問題;做器件的,想讓自己的器件用上去就不會(huì)壞;問題是,理想的狀態(tài)和現(xiàn)實(shí)的狀態(tài)那不相匹配啊,想法是好的,就是實(shí)現(xiàn)不了,呵呵。出了問題,那就找問題,多分析,多總結(jié),技術(shù)啊,器件工藝啊,那也就在不知不覺中前進(jìn)了。
國(guó)人當(dāng)自強(qiáng)!技術(shù)不斷成熟,進(jìn)步,呵呵。
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左明
LV.8
26
2011-06-29 19:58
高導(dǎo)熱陶瓷墊片,導(dǎo)熱系數(shù)達(dá)24W/M,K,耐壓10KV以上,比矽膠片導(dǎo)熱絕緣好得多,是IGBT管最佳導(dǎo)熱絕緣配套產(chǎn)品,可以提供樣品測(cè)試,東莞長(zhǎng)安左明QQ:413700881
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2011-06-29 23:04
@irex
這問題不會(huì)在元件上,是在你設(shè)計(jì)與對(duì)應(yīng)負(fù)載問題本人最近在致力研究感應(yīng)加熱元件合理應(yīng)用最後導(dǎo)出一各負(fù)載參數(shù)表(僅適用無變壓器輸出架構(gòu))暫時(shí)給他一個(gè)參數(shù)叫[磁載率]他的定義就是 入電電流與諧振電流比換句話就是說多大諧震電流能帶多少入電電流,而入電電流就是能作用到負(fù)載的功(機(jī)器損號(hào)先忽略)比如20號(hào)鋼係數(shù)在17%-22%,45號(hào),鋼係數(shù)在12%-15%,砲筒(3鉻鋼)在7%-11%這係數(shù)也會(huì)與線圈與負(fù)載距離有關(guān),上係數(shù)以15mm-25mm測(cè)定因此比如60N100IGBT在20號(hào)鋼時(shí)可以做到16A(380V)10KW安全使用不會(huì)超過IGBTICM在適當(dāng)?shù)倪x擇耗電還可以降低周邊元件於量,降低所有元件發(fā)熱因此,看你IGBT狀況可以肯定是你負(fù)載沒注意好,IGBT超過ICM而炸毀也相信你周邊元件比如電容下場(chǎng)應(yīng)該不比IGBT好科技進(jìn)步在不同角度鑽研與分析祝你好運(yùn)
劉工,你好。我這個(gè)模塊是在機(jī)器正常工作3個(gè)月后的工作之中炸的。電容沒有問題,就整流模塊壞了。我分析可能是工作之中不小心到了容性狀態(tài)炸的
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igbtsy
LV.9
28
2011-07-01 08:44
@我是無為
劉工,你好。我這個(gè)模塊是在機(jī)器正常工作3個(gè)月后的工作之中炸的。電容沒有問題,就整流模塊壞了。我分析可能是工作之中不小心到了容性狀態(tài)炸的
如果是整流模塊也壞的話,要懷疑是否是整流橋先壞,出來的是交流那么模塊中的續(xù)流管變成交流負(fù)半周的短路通道,要靠電源輸入端的空氣開關(guān)跳閘來保護(hù)了。
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2011-07-01 13:33
@igbtsy
如果是整流模塊也壞的話,要懷疑是否是整流橋先壞,出來的是交流那么模塊中的續(xù)流管變成交流負(fù)半周的短路通道,要靠電源輸入端的空氣開關(guān)跳閘來保護(hù)了。
有這種可能性!具體問題還要具體分析。
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2011-07-02 10:15
@igbtsy
如果是整流模塊也壞的話,要懷疑是否是整流橋先壞,出來的是交流那么模塊中的續(xù)流管變成交流負(fù)半周的短路通道,要靠電源輸入端的空氣開關(guān)跳閘來保護(hù)了。

我用的整流模塊是100A/1600V的。正常工作電流是15A左右

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igbtsy
LV.9
31
2011-07-02 16:12
@我是無為
我用的整流模塊是100A/1600V的。正常工作電流是15A左右

這樣的用法一般應(yīng)當(dāng)不會(huì)有問題,但是如果買了不好的整流橋就說不正啦!

有一次我在試驗(yàn)臺(tái)上把全橋臨時(shí)改接成半橋,那天事多注意力不集中,不小心把整流輸出接反供給IGBT模塊,第一次合閘跳空開(32A的空開),查沒有短路,懷疑是自己沒有用力合閘,再合閘又跳空開,手感空開跳開力度大,知道是有短路了。細(xì)查發(fā)現(xiàn)了問題,心里好害怕,75A/1200A的模塊及60A三相整流橋都沒壞,一年多了,現(xiàn)在還一直在使用。

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