為什么客戶(hù)在設(shè)計(jì)方案時(shí),從外圍參數(shù)選擇到電路的冗余考慮都非常合理,前期高低溫老化也沒(méi)有問(wèn)題??
但是當(dāng)進(jìn)入方案最終的開(kāi)關(guān)老化測(cè)試的時(shí)候,會(huì)出現(xiàn)PCBA損壞的現(xiàn)象,經(jīng)分析大部分問(wèn)題現(xiàn)象都是IC的VDD腳對(duì)地短路,MOS管對(duì)地短路??
主要原因就是IC內(nèi)部沒(méi)有內(nèi)置有效的軟啟動(dòng)保護(hù)電路。
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