薄膜電容器質量的好壞,直接影響到節(jié)能燈、鎮(zhèn)流器的質量,因此,如何合理選擇和使用薄膜電容,是照明生產商考慮十分謹慎的問題,更是薄膜電容器生產商應承擔的責任和義務.

近些年來,節(jié)能燈、鎮(zhèn)流器在設計上已基本趨于成熟,但產品質量卻始終不能保持相對穩(wěn)定,致使一些照明生產商在檢測薄膜電容時走入誤區(qū):(1、1kHz測試,損耗≤0.0003;2、3Ur測試耐電壓)即不能完全挑出存在隱患的電容,同時也給電容器造成較大損害.

一、   電容器損耗與檢測

電容器的損耗由介質損耗和金屬部分損耗組成.介質損耗是由介質本身決定,即由介質薄膜的性能——漏導引起的.當使用頻率很低時,電容器的損耗主要由介質損耗決定.其值隨頻率上升而成反比下降.

(漏導:任何電介質都不是理想的絕緣體,在電場的作用下,總有一定的電流流過,這種電流很小,稱作漏導電流或漏導.)

金屬部分損耗,其公式為:tgδ=ωcRs=2πfcRs(R為電容器等效串聯(lián)電阻),因而當使用頻率很高時,金屬部分損耗為主要損耗.Rs由電容器引出線電阻、極板電阻、極板與引出線之間連接引起的接觸電阻總和.如果連接不好,接觸電阻較大,那么電容器在高頻情況下的損耗就很大.使得電容器在高頻情況下使用,發(fā)熱嚴重,導致?lián)p壞.因而使用頻率較高時,必須用高頻測試,剔除端面接觸不良者.盡量消除使用時的潛在危險.而用低頻1KHz就不能很好有效地剔除接觸不良者.況且,CBB類1KHz損耗指標為≤0.0003,數(shù)值偏小,有時測試儀表之間的誤差可能達到0.0002.因而,建議對用在使用頻率較高的燈上時,至少用10KHz測試,指標≤0.0015,更有把握.

二、   電容器耐壓與檢測

薄膜電容器介質的厚度是以其額定電壓大小來選取的,即介質厚度決定著額定電壓的大小,其相互關系見下表:(此處加表)其工作電壓,在頻率適宜的情況下,一般應不大于額定電壓.而瞬時承受電壓,即耐電壓,按國際國內標準最大測試電壓為2倍電壓,重復進行耐電壓試驗對電容器有損傷,因而過高的耐電壓超過介質薄膜的承受有力,會損傷介質對電容器也是不利的.經過我們多年的試驗,這些潛在的危險,會減少其使用壽命.因而建議客戶給出的電容器耐電壓指標應不大于2倍.而且在這種條件下,電容器廠家為了更好地保證客戶使用,還要高于2倍進行內控,但這些余量我們也是靠增加介質厚度來保證的.如果客戶給大于2倍甚至3倍的指標,那我們仍要加嚴,這樣無限制的加下去,對電容器是一種損害,對照明產品也是一種損害,即使當時生產、檢測過程中沒有體現(xiàn)出來,但是卻為日后用戶的使用埋下了隱患,這對電容器供應商,照明產品制造商及消費者三方都是不利的.因為我們共同的目標就是滿足消費者的使用.

三、   金屬化內串電容器與箔式內串電容器的區(qū)別

(1)電容器的好壞,除用容量、損耗、絕緣、耐壓四個基本參數(shù)衡量檢測外.它的耐脈沖電壓沖擊和承受電流大小等性能也是需要考慮的.在燈的電路中使用的電容器這兩點更需要注意.鑒于這兩點性能的考慮,腳距為10的體積較小的金屬化內串不好腳距為15體積較大的箔式內串的結構,因為金屬化內串結構的極板與引出的連接端面是介質薄膜,而該連接部位的接觸電阻較大,加脈沖時,瞬間流過的電流很大,引起發(fā)熱,而塑料薄膜介質不耐熱,遇熱收縮,造成端面接觸惡化,使等效串聯(lián)電阻更大,如此,惡性循環(huán),會很快使薄膜電容失效,而鋁箔做端面的肉串結構,端面極板與引出線相連接的部分是金屬鋁,金屬耐熱,因而加上脈沖,有大電流流過時,產生的熱量不會使其收縮,仍能保證端面良好的接觸.所以,從耐脈沖擊角度考慮,箔式內串分壓結構優(yōu)于金屬化內串結構.

(2)電流流過的路徑是極板、接觸端面、引出線這幾個金屬部分及其連接處,在引出線相同,不考慮接觸電阻的情況下,金屬化電極的電阻要大于箔式電極電阻兩個數(shù)量級.因為金屬化電極是在介質薄膜表面蒸鍍上一層薄薄的金屬鋁,其厚度不過0.05~0.1um.而鋁箔的厚度為6um,因而,金屬化電極極電阻要遠大于箔式電極的電阻,使得金屬部分的損耗大于箔式.尤其是頻率較高時,在流過電流相同時,金屬化電極發(fā)熱遠大于箔式電極.因而使用頻率較高、電壓較大時,不宜采用金屬內串結構的電容.