Model 58173 LED 全光通量自動測試系統(tǒng)
|
主要特色：
提供全方位電性測試 (200V/2A) ，可滿足HV及HP測試Chroma大面積光偵測器(量測角度可達128度)半自動精密LED wafer/chip點測設(shè)備特製Edge Sensor具有點測針壓穩(wěn)定，無疲乏與針壓變動問題機械視覺定位系統(tǒng)，縮短人工操作時間自動抽測功能彈性調(diào)整的軟體操作界面快速芯片掃描系統(tǒng)自動破片掃描演算法遮光罩設(shè)計，杜絕背景光干擾即時顯示點測資料分佈圖完善的量產(chǎn)測試統(tǒng)計報表及分析工具
|
硬體設(shè)備
自動化 LED wafer/chip 點測設(shè)備漏電流測試模組電源量測單元光學測試模組ESD 測試模組 (選配)Chroma 58173 是一組全新獨特的量測 LED 全光通量之自動化測試系統(tǒng)。在LED的裸晶與晶粒測試生產(chǎn)線中，常見使用部份光通量來取代全光通量之量測方式 (見圖1)。然而，傳統(tǒng)的方式存在一些缺點，例如：準確度較低、訊噪比較低、測試時間較長等，以致於導入LED 的裸晶與晶粒生產(chǎn)線時會發(fā)生問題。
致茂研發(fā)出一種全新、高速且高精確度之 LED 全光通量之量測方式(見圖2)。 這種創(chuàng)新的量測方式不僅比傳統(tǒng)方式收集更多的 LED 部分光通量，也明顯的改善提升了量測精確度。
在光學量測方面，主波長、峰波長、色溫等均可透過致茂獨特的光學設(shè)計與元件取得精確且穩(wěn)定快速之數(shù)據(jù)；在機構(gòu)方面，58173 搭載一個6吋的晶片載盤與校正基座，提供使用者一個完整的校正與測試平臺；在電性測試方面，58173 則具備完整之電源量測單元，無論順向電壓、漏電流、逆向崩潰電壓等 LED 電性特性，均可於一次滿足使用者的測試需求。
