求助:小環(huán)形電感在生產(chǎn)過程中漆包線出現(xiàn)大量破皮不良.
因磁環(huán)小,客戶又要求漆包線吃錫位高于鐵芯,在漆包線最后一圈內(nèi)側(cè)位置有大量破皮現(xiàn)象,不知各位DX有何改善方案,謝謝.
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@aahui99
最后一匝先不繞,留適當(dāng)線長,鍍錫后再把最后一匝繞上,愚人之見,包涵!
支持aahui99第11帖的看法
我們是採用線繞完退一圈的做法
三層絕緣線主要有兩種類型
一種是最外層比較厚可以用刀片直接脫皮
但有致命缺點,圈數(shù)多時最後幾圈會拉破皮
主要原因是因為最外層的鐵弗龍層太厚
延展性不夠,員工勾線力道過大時,
最後幾圈在重複磨損下,產(chǎn)生鐵弗龍裂開
一種是可直焊性的但無法用刀片直接脫皮
採購單價比較便宜將近35%,且不會有鐵弗龍裂開的問題
但在作業(yè)上工時會比較重,須採二次焊錫,
且安全性有待爭議(因為進出線的位置被二次破壞)
第一次約在2.5秒到4秒(要看線徑採用不同的錫爐溫度來做破壞)
破壞絕緣層後再用脫漆劑做二次破壞
第二次銲錫做吃錫表面(時間不可過長,只做表面處理,)
目前我們公司兩種都有用
第一種用在變壓器上(藍菱的,中頂?shù)?
第二種用在線圈上(益瑞的,FURUKAWA,TOTOKU)
我們是採用線繞完退一圈的做法
三層絕緣線主要有兩種類型
一種是最外層比較厚可以用刀片直接脫皮
但有致命缺點,圈數(shù)多時最後幾圈會拉破皮
主要原因是因為最外層的鐵弗龍層太厚
延展性不夠,員工勾線力道過大時,
最後幾圈在重複磨損下,產(chǎn)生鐵弗龍裂開
一種是可直焊性的但無法用刀片直接脫皮
採購單價比較便宜將近35%,且不會有鐵弗龍裂開的問題
但在作業(yè)上工時會比較重,須採二次焊錫,
且安全性有待爭議(因為進出線的位置被二次破壞)
第一次約在2.5秒到4秒(要看線徑採用不同的錫爐溫度來做破壞)
破壞絕緣層後再用脫漆劑做二次破壞
第二次銲錫做吃錫表面(時間不可過長,只做表面處理,)
目前我們公司兩種都有用
第一種用在變壓器上(藍菱的,中頂?shù)?
第二種用在線圈上(益瑞的,FURUKAWA,TOTOKU)
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@dgshk
外發(fā)給我家做吧!我們專業(yè)做電感線圈的!這類問題天天都會遇到!制程工藝有講究!
我很高興認識你!我們公司也是專業(yè)做電感的,而我是新加入的,希望你能多多指教!
今天我遇到一個問題,對你而言,肯定是很簡單的,可對我而言,卻覺得很難,特請教!
我有一個環(huán)形CORE,四線(40#)并繞(密繞),裝在一個BOBBIN上.各繞組的DCR分別是0.25Ω最大;L值分別是5.0μH最小,測試規(guī)格1.0MHZ,0.1V.不良品中,測DCR時七個產(chǎn)品中,每個產(chǎn)品分別有一個繞組的DCR測不出來,剛開始我懷疑是斷線,而拆開產(chǎn)品看,又沒有斷線.而L值又可以測出來,能測DCR的繞組L值都差不多,不能測DCR的繞組L值比較低.我想DCR測不出來,應(yīng)該是斷線,既然斷線了,L值也應(yīng)該測不出來,可是現(xiàn)在L值卻可以測出來,只是數(shù)值差一點.請教,這是什么原因造成的?該怎樣解決這樣的問題?
還有一個疑點是:焊點處沒有斷線,環(huán)形CORE上繞線,四線并繞斷線的概率也應(yīng)該很小,對嗎
今天我遇到一個問題,對你而言,肯定是很簡單的,可對我而言,卻覺得很難,特請教!
我有一個環(huán)形CORE,四線(40#)并繞(密繞),裝在一個BOBBIN上.各繞組的DCR分別是0.25Ω最大;L值分別是5.0μH最小,測試規(guī)格1.0MHZ,0.1V.不良品中,測DCR時七個產(chǎn)品中,每個產(chǎn)品分別有一個繞組的DCR測不出來,剛開始我懷疑是斷線,而拆開產(chǎn)品看,又沒有斷線.而L值又可以測出來,能測DCR的繞組L值都差不多,不能測DCR的繞組L值比較低.我想DCR測不出來,應(yīng)該是斷線,既然斷線了,L值也應(yīng)該測不出來,可是現(xiàn)在L值卻可以測出來,只是數(shù)值差一點.請教,這是什么原因造成的?該怎樣解決這樣的問題?
還有一個疑點是:焊點處沒有斷線,環(huán)形CORE上繞線,四線并繞斷線的概率也應(yīng)該很小,對嗎
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@dgshk
外發(fā)給我家做吧!我們專業(yè)做電感線圈的!這類問題天天都會遇到!制程工藝有講究!
很高興認識你!我們公司也是專業(yè)生產(chǎn)電感的.不過我是新入門的,希望你多多指教!
今天我遇到一個問題,對你而言,肯定是很簡單的,可對我而言,卻覺得很難,特請教!
我有一個環(huán)形CORE,四線(40#)并繞(密繞),裝在一個BOBBIN上.各繞組的DCR分別是0.25Ω最大;L值分別是5.0μH最小,測試規(guī)格1.0MHZ,0.1V.不良品中,測DCR時七個產(chǎn)品中,每個產(chǎn)品分別有一個繞組的DCR測不出來,剛開始我懷疑是斷線,而拆開產(chǎn)品看,又沒有斷線.而L值又可以測出來,能測DCR的繞組L值都差不多,不能測DCR的繞組L值比較低.我想DCR測不出來,應(yīng)該是斷線,既然斷線了,L值也應(yīng)該測不出來,可是現(xiàn)在L值卻可以測出來,只是數(shù)值差一點.請教這是什么原因造成的?該怎樣解決這樣的問題?
還有一個疑點是:焊點處沒有斷線,環(huán)形CORE上繞線,四線并繞斷線的概率也應(yīng)該很小,對嗎
今天我遇到一個問題,對你而言,肯定是很簡單的,可對我而言,卻覺得很難,特請教!
我有一個環(huán)形CORE,四線(40#)并繞(密繞),裝在一個BOBBIN上.各繞組的DCR分別是0.25Ω最大;L值分別是5.0μH最小,測試規(guī)格1.0MHZ,0.1V.不良品中,測DCR時七個產(chǎn)品中,每個產(chǎn)品分別有一個繞組的DCR測不出來,剛開始我懷疑是斷線,而拆開產(chǎn)品看,又沒有斷線.而L值又可以測出來,能測DCR的繞組L值都差不多,不能測DCR的繞組L值比較低.我想DCR測不出來,應(yīng)該是斷線,既然斷線了,L值也應(yīng)該測不出來,可是現(xiàn)在L值卻可以測出來,只是數(shù)值差一點.請教這是什么原因造成的?該怎樣解決這樣的問題?
還有一個疑點是:焊點處沒有斷線,環(huán)形CORE上繞線,四線并繞斷線的概率也應(yīng)該很小,對嗎
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@奇異果
很高興認識你!我們公司也是專業(yè)生產(chǎn)電感的.不過我是新入門的,希望你多多指教!今天我遇到一個問題,對你而言,肯定是很簡單的,可對我而言,卻覺得很難,特請教!我有一個環(huán)形CORE,四線(40#)并繞(密繞),裝在一個BOBBIN上.各繞組的DCR分別是0.25Ω最大;L值分別是5.0μH最小,測試規(guī)格1.0MHZ,0.1V.不良品中,測DCR時七個產(chǎn)品中,每個產(chǎn)品分別有一個繞組的DCR測不出來,剛開始我懷疑是斷線,而拆開產(chǎn)品看,又沒有斷線.而L值又可以測出來,能測DCR的繞組L值都差不多,不能測DCR的繞組L值比較低.我想DCR測不出來,應(yīng)該是斷線,既然斷線了,L值也應(yīng)該測不出來,可是現(xiàn)在L值卻可以測出來,只是數(shù)值差一點.請教這是什么原因造成的?該怎樣解決這樣的問題?還有一個疑點是:焊點處沒有斷線,環(huán)形CORE上繞線,四線并繞斷線的概率也應(yīng)該很小,對嗎
這種問題還真沒見過.DCR為無窮大,而L還能測試出來,只是測試值比較小?能看看你的不良品的具體測試值嗎?
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@奇異果
很高興認識你!我們公司也是專業(yè)生產(chǎn)電感的.不過我是新入門的,希望你多多指教!今天我遇到一個問題,對你而言,肯定是很簡單的,可對我而言,卻覺得很難,特請教!我有一個環(huán)形CORE,四線(40#)并繞(密繞),裝在一個BOBBIN上.各繞組的DCR分別是0.25Ω最大;L值分別是5.0μH最小,測試規(guī)格1.0MHZ,0.1V.不良品中,測DCR時七個產(chǎn)品中,每個產(chǎn)品分別有一個繞組的DCR測不出來,剛開始我懷疑是斷線,而拆開產(chǎn)品看,又沒有斷線.而L值又可以測出來,能測DCR的繞組L值都差不多,不能測DCR的繞組L值比較低.我想DCR測不出來,應(yīng)該是斷線,既然斷線了,L值也應(yīng)該測不出來,可是現(xiàn)在L值卻可以測出來,只是數(shù)值差一點.請教這是什么原因造成的?該怎樣解決這樣的問題?還有一個疑點是:焊點處沒有斷線,環(huán)形CORE上繞線,四線并繞斷線的概率也應(yīng)該很小,對嗎
是不是你測試的檔不對吧,有點電阻超出一定的范圍儀器就不顯示了
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